Chipsmall X-Ray Inspection for Electronic Components Is Opening Now

Рэнтгенаўскі кантроль — гэта выкарыстанне тэхналогіі рэнтгенаграфіі для атрымання выявы ўнутранай структуры тэстуемага аб'екта, што дазваляе вывучыць яго ўнутраныя характарыстыкі без разбурэння аб'екта.

Ён у асноўным выкарыстоўваецца для праверкі сапраўднасці і аналізу адмоў кампанентаў. Гэта сусветна прызнаны метад ацэнкі арыгінальнасці чыпаў, а таксама выяўлення і аналізу няспраўнасцей.

Тэхналогія рэнтгенаўскага выяўлення валодае такімі перавагамі, як высокая хуткасць, неразбуральны кантроль і нізкі кошт пры праверцы арыгінальнасці мікрасхем.

Выяўленне адмоў мікрасхем:

З дапамогай рэнтгенаўскіх здымкаў можна візуальна выявіць унутраныя дэфекты, расслаенні, расколіны, пустэчы і г.д. у чыпе, што дапамагае вызначыць прычыну яго адмовы.

Ацэнка сапраўднасці мікрасхем:

Сапраўднасць вызначаецца шляхам параўнання корпуса, крышталя, вывадных правадоў і іншых элементаў на рэнтгенаўскім здымку тэстуемага ўзору з эталонным чыпам;